jan-026英国jandel探针

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Jandell通用四点探针系统

Multiheight Probe与我们的RM3000测试单元相结合,是迄今为止我们醉 受 欢 迎的一套设备。

这种组合允许从带有TCO或金属层的玻璃载片,到晶片shen至深达250mm的锭块测量各

种样品。

如果要测量较高的样品,可选择较长的柱子,底座可用于测量直径达250mm的样品或直径达300mm的样品。

可以将微定位台或多定位台安装到基座上,以便能够测量小样品或晶片。

300毫米版本配备RM3000测试单元控制的自动Z轴。

英国jandel 四探针主要产品及关键词:

Jandel探针

Jandel专 用探头

Jandel四点探针

Jandel测试单位

Jandel手动探针支架

Jandel半自动探针架

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产品均为欧洲,提供报关单,(发货同时提供),个别 具体客户有需要,可提供原产地证明(须+手续费,欧洲厂家付给当地商会,手续较麻烦,会延误1周货期)

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