Cathpan 600型 CT性能检测模体

Cathpan 600型CT性能检测模体 北京华睿志达科技发展有限公司、北京华瑞森科技发展有限公司销售的:美国Cathpan 600型CT性能检测模体(Catphan 600 Phantom to Measure Imaging Characteristics)满足检测CT性能的相关检测要求: 性能参数:扫描切片(层厚和切片)高对比空间分辨率(高达20或21个线对/cm)模体位置病人定位系统检查低对比度切片低对比查验比较空间均匀性扫描增量CT系统噪声(精度)圆形对称线光像素(矩阵)大小点伸展功能及调制传送功能符合:X射线计算机断层摄影装置质量保证检测规范(GB 17589-2011)的要求。Cathpan 600型模体包括四个检测模块1、CTP401:层厚、CT值线性与对比度标度2、CTP528:高对比度分辨力3、CTP515:低对比度分辨力4、CTP486:场均匀性和噪声CT性能检测模体Catphan600介绍:CTP401模块直径15cm,厚2.5cm内嵌两组23°金属斜线(X方向、Y方向)内嵌四个密度不同的小圆柱体用于测量层厚、CT值线性参数模体材料1、特氟隆Teflon(高密度物质,类似骨头,标准CT值:990)2、丙稀(Acrylic,标准CT值:120)3、低密度聚乙稀(LDPE,标准CT值:-100)4、空气(低密度,标准CT值:-1000)此外体模材料本身可以作为第五种材料样品。CTP528空间分辨率直径15cm,厚4cm21组高密度线对结构(放射状分布)用于测量空间分辨力,x轴、y轴和z轴的点测试到每厘米21线对)CTP515密度分辨力直径15cm,厚4cm内外两组低密度孔径结构(放射状分布)内层孔阵:对比度0.3%、0.5%、1.0%;直径3、5、7、9mm外层孔阵:对比度0.3%、0.5%、1.0%;直径2、3、4、5、6、7、8、9、15mm用于测量密度分辨力CTP486模块直径15cm,厚5cm固体均匀材料,“固体水”用于测量场均匀性、噪声等参数 测试方法:1、用ROI测量斜线像邻域的CT值L12、窗宽调到小,调高窗位,直至四条斜线像消失时记录窗位L23、计算窗位:L=(L1+L2)/24、窗宽调到小,调节窗位到L,量得四条斜线的长度X5、代入下列公式计算。层厚测量公式:利用CTP401模块内2组23°斜线测量。取正切值X/Z= tan 230则断层厚度Z(层厚)Z = X×tg23° = X×0.42二、CT值 线 性1、线性定义:样本物质CT值与其对X射线衰减系数的线性关系。2、测量原理:利用CTP401模块内四个小圆柱**的样本测量。四种样本分别为Acrylic、Air、Teflon和LDPE,它们密不同,对X射线的衰减系数(u值)也不同,对应的CT值也不同。三、空 间 分 辨 力检测方法1、扫描CTP528模块中心层面2、同时调整窗宽和窗位,分辨小的一组线对3、用目测或Profile功能确定所能分辨的高一级线对。4、各线对所对应的空间分辨力由低到高分别为1 LP/cm到21LP/cm(即5mm-0.24mm)。(5/n,n=线对数)性能要求:普通CT机在常规算法下为5到7 LP/cm四、密 度 分 辨 力1、定义:在目标物质与均质背景的X射线线性衰减系数相差小于1%时,CT机所能分辨目标物质的能力,通常以能区分开的目标物质的小尺寸表示2、检测方法(一)扫描CTP515模块中心层面同时调节窗宽和窗位确定各对比度系列中所能分辨的小一级孔径。检测方法(二)用ROI测量背景信号目标和目标邻域的CT值、标准偏差窗宽=CT目标-CT背景+5SDMAX,其中SDMAX为目标和背景CT值中的大SD窗位=(CT目标+CT背景)/2;调整窗宽窗位到测量所得的窗宽和窗位值,观察图像,确定所能分辨的小一级低信号目标.3、性能要求:应能分辨到直径为3或4mm的圆孔五、场 均 匀 性检测方法:1、常规条件下扫描CTP486模块中心层面。2、在中心用大于100象素的ROI(面积约为1cm2)测CT值。3、用相同ROI在所得图像边缘1cm处取四点CT值。4、边缘对中心CT值的大偏差为场均匀性。性能要求:中心点CT值与四周CT值偏差不大于4HU六、 噪 声定义:均匀物质图像在给定区域中的CT值对其平均值的变异。一般用中心区域CT值的标准偏差来表示。检测方法:常规条件下扫描CTP486模块中心层面,测量所得图像中心区域的CT值标准偏差SD,则噪声N=SD×0.1%性能要求:噪 声水平应不大于0.35%七、水 的CT值衡量CT值的准确性。也可用常规扫描CT所配的水模来测量。水的CT值:0空气的CT值:-1000 我公司代理Cathpan500型CT性能检测模体、Cathpan 600型CT性能检测模体、Cathpan 700型CT性能检测模体、CATPHAN 189 CATPHAN 191低对比度测试模体。 北京华睿志达科技发展有限公司 BeijingHuaruizhida Technology Development Co.Ltd., 北京华瑞森科技发展有限公司 BeijingHuaruison Technology Development Co.Ltd., 地址:北京通州区通州工业开发区光华路16号方和正圆大厦A座2楼